Гольдштейн Р.В., Козинцев В.М., Попов А.Л., Чернышев Г.Н. Экспериментально-теоретический метод диагностики отслоений тонких покрытий // ПММ. 2000. Т. 64. Вып. 2. С. 332-336.

Loading document ...